原理
1.*測量范圍米氏透射基礎理論HL系列激光粒度分布采用*測量范圍米氏透射基礎理論，充分考慮了助懸劑和待測顆粒的折光率，融合**的檢測裝置，依據大小不一的顆粒在各個角度上漫射光高的轉變來反表演顆粒群的粒度分布大小粒度分析規律性;
2.HL系列激光粒度分析儀采用**的過來人線性擬合逆變技術方式、頻帶變大技術性，數據處理方法后可以獲得更加真實的分布特征，針對高等院校、研究室等科學合理科研型顧客具備至關重要的實際意義;
3.HL納米技術激光粒度分析儀采用企業****CR-128數據相關器。*內激光粒度儀公司，所有采用是指“靜態數據光散射基礎理論”，此理論測試的高效低限只有做到50納米技術，針對較小的顆粒則束手無策。納米技術顆粒檢測務必采用“動態光散射”技術性，而實現此科技的關鍵構件--相關器一直由海外壟斷性，HL納米激光粒度分析儀先打破了此項技術的**壟斷，為*內填了技術空白，可測試0.3-3600um大小的顆粒。
激光粒度儀是基于光衍射現象設計的，當光通過顆粒時產生衍射現象（其本質是電磁波和物質的相互作用）。衍射光的角度與顆粒的大小成反比。
不同大小的顆粒在通過激光光束時其衍射光會落在不同的位置，位置信息反映顆粒大小；同樣大的顆粒通過激光光束時其衍射光會落在相同的位置。衍射光強度的信息反映出樣品中相同大小的顆粒所占的百分比多少。
激光衍射法就是采用一系列的光敏檢測器來測量位置粒徑的顆粒在不同角度上的衍射光的強度，使用衍射模型，通過數學反演，然后得到樣品的粒度分布。
通過該位置檢測器接收到的衍射光強度，得到所對應顆粒粒徑的百分比含量。
顆粒衍射光的強度對角度的依賴性是隨著顆粒粒徑的變小而降低，當顆粒小到幾百納米時，其衍射光強對于角度幾乎失去依賴性，即此時的衍射光會分布在很寬的角度范圍內，而且單位面積上的光強很弱，這增加了檢測的難度。